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VEISSID, N. Estudo da degradacao da corrente de curto circuito e tensao de circuito aberto de celulas solares de qualificacao espacial em funcao da fluencia de eletrons de 1mev. In: SIMPÓSIO BRASILEIRO DE MICROELÉTRONICA, 4., 1984, São Paulo. (campo ausente ou vazio: 'booktitle') 1984. (INPE-3356). Disponível em: <http://urlib.net/ibi/6qtX3pFwXQZ3r59YCT/GT7yL>.
Como Fazer a Citação no Texto (por autor/ano)
... como proposto por Veissid (1984).
... pode ser encontrada na literatura (VEISSID, 1984).